ਪੈਟਰੋਗ੍ਰਾਫੀ ਅਤੇ ਫਲੋਰੋਸੈਂਸ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਕੰਕਰੀਟ ਫੁੱਟਪਾਥ ਮਿਕਸ ਡਿਜ਼ਾਈਨ ਦੇ ਗੁਣਵੱਤਾ ਭਰੋਸੇ ਵਿੱਚ ਪ੍ਰਗਤੀ

ਕੰਕਰੀਟ ਫੁੱਟਪਾਥਾਂ ਦੀ ਗੁਣਵੱਤਾ ਭਰੋਸੇ ਵਿੱਚ ਨਵੇਂ ਵਿਕਾਸ ਗੁਣਵੱਤਾ, ਟਿਕਾਊਤਾ ਅਤੇ ਹਾਈਬ੍ਰਿਡ ਡਿਜ਼ਾਈਨ ਕੋਡਾਂ ਦੀ ਪਾਲਣਾ ਬਾਰੇ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਜਾਣਕਾਰੀ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕਰ ਸਕਦੇ ਹਨ।
ਕੰਕਰੀਟ ਫੁੱਟਪਾਥ ਦੇ ਨਿਰਮਾਣ ਵਿੱਚ ਐਮਰਜੈਂਸੀ ਹਾਲਾਤ ਆ ਸਕਦੇ ਹਨ, ਅਤੇ ਠੇਕੇਦਾਰ ਨੂੰ ਕਾਸਟ-ਇਨ-ਪਲੇਸ ਕੰਕਰੀਟ ਦੀ ਗੁਣਵੱਤਾ ਅਤੇ ਟਿਕਾਊਤਾ ਦੀ ਪੁਸ਼ਟੀ ਕਰਨ ਦੀ ਲੋੜ ਹੁੰਦੀ ਹੈ। ਇਹਨਾਂ ਘਟਨਾਵਾਂ ਵਿੱਚ ਡੋਲ੍ਹਣ ਦੀ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਦੌਰਾਨ ਮੀਂਹ ਦਾ ਸਾਹਮਣਾ ਕਰਨਾ, ਕਿਊਰਿੰਗ ਮਿਸ਼ਰਣਾਂ ਨੂੰ ਲਾਗੂ ਕਰਨ ਤੋਂ ਬਾਅਦ, ਪਲਾਸਟਿਕ ਦਾ ਸੁੰਗੜਨਾ ਅਤੇ ਡੋਲ੍ਹਣ ਤੋਂ ਕੁਝ ਘੰਟਿਆਂ ਦੇ ਅੰਦਰ-ਅੰਦਰ ਕ੍ਰੈਕਿੰਗ ਘੰਟੇ, ਅਤੇ ਕੰਕਰੀਟ ਟੈਕਸਟਚਰਿੰਗ ਅਤੇ ਕਿਊਰਿੰਗ ਮੁੱਦੇ ਸ਼ਾਮਲ ਹਨ। ਭਾਵੇਂ ਤਾਕਤ ਦੀਆਂ ਜ਼ਰੂਰਤਾਂ ਅਤੇ ਹੋਰ ਸਮੱਗਰੀ ਟੈਸਟ ਪੂਰੇ ਹੋ ਜਾਂਦੇ ਹਨ, ਇੰਜੀਨੀਅਰ ਫੁੱਟਪਾਥ ਦੇ ਹਿੱਸਿਆਂ ਨੂੰ ਹਟਾਉਣ ਅਤੇ ਬਦਲਣ ਦੀ ਲੋੜ ਕਰ ​​ਸਕਦੇ ਹਨ ਕਿਉਂਕਿ ਉਹ ਇਸ ਬਾਰੇ ਚਿੰਤਤ ਹਨ ਕਿ ਕੀ ਇਨ-ਸੀਟੂ ਸਮੱਗਰੀ ਮਿਕਸ ਡਿਜ਼ਾਈਨ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਨੂੰ ਪੂਰਾ ਕਰਦੀ ਹੈ।
ਇਸ ਸਥਿਤੀ ਵਿੱਚ, ਪੈਟਰੋਗ੍ਰਾਫੀ ਅਤੇ ਹੋਰ ਪੂਰਕ (ਪਰ ਪੇਸ਼ੇਵਰ) ਟੈਸਟ ਵਿਧੀਆਂ ਕੰਕਰੀਟ ਮਿਸ਼ਰਣਾਂ ਦੀ ਗੁਣਵੱਤਾ ਅਤੇ ਟਿਕਾਊਤਾ ਬਾਰੇ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਜਾਣਕਾਰੀ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕਰ ਸਕਦੀਆਂ ਹਨ ਅਤੇ ਕੀ ਉਹ ਕੰਮ ਦੀਆਂ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਨੂੰ ਪੂਰਾ ਕਰਦੇ ਹਨ।
ਚਿੱਤਰ 1. 0.40 w/c (ਉੱਪਰਲਾ ਖੱਬਾ ਕੋਨਾ) ਅਤੇ 0.60 w/c (ਉੱਪਰਲਾ ਸੱਜਾ ਕੋਨਾ) 'ਤੇ ਕੰਕਰੀਟ ਪੇਸਟ ਦੇ ਫਲੋਰੋਸੈਂਸ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪ ਮਾਈਕ੍ਰੋਗ੍ਰਾਫ਼ਾਂ ਦੀਆਂ ਉਦਾਹਰਣਾਂ। ਹੇਠਲਾ ਖੱਬਾ ਚਿੱਤਰ ਕੰਕਰੀਟ ਸਿਲੰਡਰ ਦੀ ਰੋਧਕਤਾ ਨੂੰ ਮਾਪਣ ਲਈ ਡਿਵਾਈਸ ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਂਦਾ ਹੈ। ਹੇਠਲਾ ਸੱਜਾ ਚਿੱਤਰ ਵਾਲੀਅਮ ਰੋਧਕਤਾ ਅਤੇ w/c ਵਿਚਕਾਰ ਸਬੰਧ ਦਰਸਾਉਂਦਾ ਹੈ। ਚੁਨਯੂ ਕਿਆਓ ਅਤੇ ਡੀਆਰਪੀ, ਇੱਕ ਟਵਿਨਿੰਗ ਕੰਪਨੀ
ਅਬਰਾਮ ਦਾ ਨਿਯਮ: "ਇੱਕ ਕੰਕਰੀਟ ਮਿਸ਼ਰਣ ਦੀ ਸੰਕੁਚਿਤ ਤਾਕਤ ਇਸਦੇ ਪਾਣੀ-ਸੀਮਿੰਟ ਅਨੁਪਾਤ ਦੇ ਉਲਟ ਅਨੁਪਾਤੀ ਹੁੰਦੀ ਹੈ।"
ਪ੍ਰੋਫੈਸਰ ਡੱਫ ਅਬਰਾਮਸ ਨੇ ਸਭ ਤੋਂ ਪਹਿਲਾਂ 1918 ਵਿੱਚ ਪਾਣੀ-ਸੀਮਿੰਟ ਅਨੁਪਾਤ (w/c) ਅਤੇ ਸੰਕੁਚਿਤ ਤਾਕਤ ਵਿਚਕਾਰ ਸਬੰਧ ਦਾ ਵਰਣਨ ਕੀਤਾ [1], ਅਤੇ ਜਿਸਨੂੰ ਹੁਣ ਅਬਰਾਮ ਦਾ ਨਿਯਮ ਕਿਹਾ ਜਾਂਦਾ ਹੈ, ਤਿਆਰ ਕੀਤਾ: "ਕੰਕਰੀਟ ਦੀ ਸੰਕੁਚਿਤ ਤਾਕਤ ਪਾਣੀ/ਸੀਮਿੰਟ ਅਨੁਪਾਤ।" ਸੰਕੁਚਿਤ ਤਾਕਤ ਨੂੰ ਨਿਯੰਤਰਿਤ ਕਰਨ ਤੋਂ ਇਲਾਵਾ, ਪਾਣੀ ਸੀਮਿੰਟ ਅਨੁਪਾਤ (w/cm) ਹੁਣ ਪਸੰਦ ਕੀਤਾ ਜਾਂਦਾ ਹੈ ਕਿਉਂਕਿ ਇਹ ਪੋਰਟਲੈਂਡ ਸੀਮਿੰਟ ਦੀ ਥਾਂ ਪੂਰਕ ਸੀਮਿੰਟਿੰਗ ਸਮੱਗਰੀ ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਫਲਾਈ ਐਸ਼ ਅਤੇ ਸਲੈਗ ਨਾਲ ਲੈਣਾ ਮਾਨਤਾ ਦਿੰਦਾ ਹੈ। ਇਹ ਕੰਕਰੀਟ ਦੀ ਟਿਕਾਊਤਾ ਦਾ ਇੱਕ ਮੁੱਖ ਮਾਪਦੰਡ ਵੀ ਹੈ। ਬਹੁਤ ਸਾਰੇ ਅਧਿਐਨਾਂ ਨੇ ਦਿਖਾਇਆ ਹੈ ਕਿ ~0.45 ਤੋਂ ਘੱਟ w/cm ਵਾਲੇ ਕੰਕਰੀਟ ਮਿਸ਼ਰਣ ਹਮਲਾਵਰ ਵਾਤਾਵਰਣਾਂ ਵਿੱਚ ਟਿਕਾਊ ਹੁੰਦੇ ਹਨ, ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਡੀਸਿੰਗ ਲੂਣ ਵਾਲੇ ਫ੍ਰੀਜ਼-ਥੌ ਚੱਕਰਾਂ ਦੇ ਸੰਪਰਕ ਵਿੱਚ ਆਉਣ ਵਾਲੇ ਖੇਤਰ ਜਾਂ ਉਹ ਖੇਤਰ ਜਿੱਥੇ ਮਿੱਟੀ ਵਿੱਚ ਸਲਫੇਟ ਦੀ ਉੱਚ ਗਾੜ੍ਹਾਪਣ ਹੁੰਦੀ ਹੈ।
ਕੇਸ਼ੀਲਾ ਪੋਰਸ ਸੀਮਿੰਟ ਸਲਰੀ ਦਾ ਇੱਕ ਅੰਦਰੂਨੀ ਹਿੱਸਾ ਹਨ। ਇਹਨਾਂ ਵਿੱਚ ਸੀਮਿੰਟ ਹਾਈਡਰੇਸ਼ਨ ਉਤਪਾਦਾਂ ਅਤੇ ਅਣਹਾਈਡਰੇਟਿਡ ਸੀਮਿੰਟ ਕਣਾਂ ਦੇ ਵਿਚਕਾਰ ਸਪੇਸ ਹੁੰਦੀ ਹੈ ਜੋ ਕਦੇ ਪਾਣੀ ਨਾਲ ਭਰੇ ਹੁੰਦੇ ਸਨ। [2] ਕੇਸ਼ੀਲਾ ਪੋਰਸ ਫਸੇ ਹੋਏ ਜਾਂ ਫਸੇ ਹੋਏ ਪੋਰਸ ਨਾਲੋਂ ਬਹੁਤ ਬਾਰੀਕ ਹੁੰਦੇ ਹਨ ਅਤੇ ਉਹਨਾਂ ਨਾਲ ਉਲਝਣ ਵਿੱਚ ਨਹੀਂ ਆਉਣਾ ਚਾਹੀਦਾ। ਜਦੋਂ ਕੇਸ਼ੀਲਾ ਪੋਰਸ ਜੁੜੇ ਹੁੰਦੇ ਹਨ, ਤਾਂ ਬਾਹਰੀ ਵਾਤਾਵਰਣ ਤੋਂ ਤਰਲ ਪੇਸਟ ਰਾਹੀਂ ਪ੍ਰਵਾਸ ਕਰ ਸਕਦਾ ਹੈ। ਇਸ ਵਰਤਾਰੇ ਨੂੰ ਪ੍ਰਵੇਸ਼ ਕਿਹਾ ਜਾਂਦਾ ਹੈ ਅਤੇ ਟਿਕਾਊਤਾ ਨੂੰ ਯਕੀਨੀ ਬਣਾਉਣ ਲਈ ਇਸਨੂੰ ਘੱਟ ਤੋਂ ਘੱਟ ਕਰਨਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ। ਟਿਕਾਊ ਕੰਕਰੀਟ ਮਿਸ਼ਰਣ ਦਾ ਸੂਖਮ ਢਾਂਚਾ ਇਹ ਹੈ ਕਿ ਪੋਰਸ ਜੁੜੇ ਹੋਣ ਦੀ ਬਜਾਏ ਖੰਡਿਤ ਹੁੰਦੇ ਹਨ। ਇਹ ਉਦੋਂ ਹੁੰਦਾ ਹੈ ਜਦੋਂ w/cm ~0.45 ਤੋਂ ਘੱਟ ਹੁੰਦਾ ਹੈ।
ਹਾਲਾਂਕਿ ਸਖ਼ਤ ਕੰਕਰੀਟ ਦੇ w/cm ਨੂੰ ਸਹੀ ਢੰਗ ਨਾਲ ਮਾਪਣਾ ਬਹੁਤ ਮੁਸ਼ਕਲ ਹੈ, ਇੱਕ ਭਰੋਸੇਯੋਗ ਤਰੀਕਾ ਸਖ਼ਤ ਕਾਸਟ-ਇਨ-ਪਲੇਸ ਕੰਕਰੀਟ ਦੀ ਜਾਂਚ ਲਈ ਇੱਕ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਗੁਣਵੱਤਾ ਭਰੋਸਾ ਸਾਧਨ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕਰ ਸਕਦਾ ਹੈ। ਫਲੋਰੋਸੈਂਸ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪੀ ਇੱਕ ਹੱਲ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕਰਦੀ ਹੈ। ਇਹ ਇਸ ਤਰ੍ਹਾਂ ਕੰਮ ਕਰਦਾ ਹੈ।
ਫਲੋਰੋਸੈਂਸ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪੀ ਇੱਕ ਤਕਨੀਕ ਹੈ ਜੋ ਸਮੱਗਰੀ ਦੇ ਵੇਰਵਿਆਂ ਨੂੰ ਰੌਸ਼ਨ ਕਰਨ ਲਈ ਈਪੌਕਸੀ ਰਾਲ ਅਤੇ ਫਲੋਰੋਸੈਂਟ ਰੰਗਾਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੀ ਹੈ। ਇਹ ਸਭ ਤੋਂ ਵੱਧ ਡਾਕਟਰੀ ਵਿਗਿਆਨ ਵਿੱਚ ਵਰਤੀ ਜਾਂਦੀ ਹੈ, ਅਤੇ ਇਸਦੇ ਸਮੱਗਰੀ ਵਿਗਿਆਨ ਵਿੱਚ ਵੀ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਉਪਯੋਗ ਹਨ। ਕੰਕਰੀਟ ਵਿੱਚ ਇਸ ਵਿਧੀ ਦਾ ਯੋਜਨਾਬੱਧ ਉਪਯੋਗ ਲਗਭਗ 40 ਸਾਲ ਪਹਿਲਾਂ ਡੈਨਮਾਰਕ ਵਿੱਚ ਸ਼ੁਰੂ ਹੋਇਆ ਸੀ [3]; ਇਸਨੂੰ 1991 ਵਿੱਚ ਨੋਰਡਿਕ ਦੇਸ਼ਾਂ ਵਿੱਚ ਸਖ਼ਤ ਕੰਕਰੀਟ ਦੇ ਪਾਣੀ/ਸੀ ਦਾ ਅੰਦਾਜ਼ਾ ਲਗਾਉਣ ਲਈ ਮਾਨਕੀਕ੍ਰਿਤ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ, ਅਤੇ 1999 ਵਿੱਚ ਅਪਡੇਟ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ [4]।
ਸੀਮਿੰਟ-ਅਧਾਰਿਤ ਸਮੱਗਰੀਆਂ (ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਕੰਕਰੀਟ, ਮੋਰਟਾਰ, ਅਤੇ ਗਰਾਊਟਿੰਗ) ਦੇ w/cm ਨੂੰ ਮਾਪਣ ਲਈ, ਫਲੋਰੋਸੈਂਟ ਈਪੌਕਸੀ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਲਗਭਗ 25 ਮਾਈਕਰੋਨ ਜਾਂ 1/1000 ਇੰਚ ਦੀ ਮੋਟਾਈ ਵਾਲਾ ਇੱਕ ਪਤਲਾ ਭਾਗ ਜਾਂ ਕੰਕਰੀਟ ਬਲਾਕ ਬਣਾਉਣ ਲਈ ਕੀਤੀ ਜਾਂਦੀ ਹੈ (ਚਿੱਤਰ 2)। ਇਸ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਵਿੱਚ ਕੰਕਰੀਟ ਕੋਰ ਜਾਂ ਸਿਲੰਡਰ ਨੂੰ ਲਗਭਗ 25 x 50 ਮਿਲੀਮੀਟਰ (1 x 2 ਇੰਚ) ਦੇ ਖੇਤਰ ਵਾਲੇ ਫਲੈਟ ਕੰਕਰੀਟ ਬਲਾਕਾਂ (ਖਾਲੀ ਕਹਿੰਦੇ ਹਨ) ਵਿੱਚ ਕੱਟਿਆ ਜਾਂਦਾ ਹੈ। ਖਾਲੀ ਥਾਂ ਨੂੰ ਇੱਕ ਸ਼ੀਸ਼ੇ ਦੀ ਸਲਾਈਡ ਨਾਲ ਚਿਪਕਾਇਆ ਜਾਂਦਾ ਹੈ, ਇੱਕ ਵੈਕਿਊਮ ਚੈਂਬਰ ਵਿੱਚ ਰੱਖਿਆ ਜਾਂਦਾ ਹੈ, ਅਤੇ ਈਪੌਕਸੀ ਰਾਲ ਨੂੰ ਵੈਕਿਊਮ ਦੇ ਹੇਠਾਂ ਪੇਸ਼ ਕੀਤਾ ਜਾਂਦਾ ਹੈ। ਜਿਵੇਂ-ਜਿਵੇਂ w/cm ਵਧਦਾ ਹੈ, ਸੰਪਰਕ ਅਤੇ ਪੋਰਸ ਦੀ ਗਿਣਤੀ ਵਧਦੀ ਜਾਵੇਗੀ, ਇਸ ਲਈ ਹੋਰ ਈਪੌਕਸੀ ਪੇਸਟ ਵਿੱਚ ਪ੍ਰਵੇਸ਼ ਕਰਨਗੇ। ਅਸੀਂ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪ ਦੇ ਹੇਠਾਂ ਫਲੇਕਸ ਦੀ ਜਾਂਚ ਕਰਦੇ ਹਾਂ, ਈਪੌਕਸੀ ਰਾਲ ਵਿੱਚ ਫਲੋਰੋਸੈਂਟ ਰੰਗਾਂ ਨੂੰ ਉਤੇਜਿਤ ਕਰਨ ਅਤੇ ਵਾਧੂ ਸਿਗਨਲਾਂ ਨੂੰ ਫਿਲਟਰ ਕਰਨ ਲਈ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ ਫਿਲਟਰਾਂ ਦੇ ਸੈੱਟ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ। ਇਹਨਾਂ ਤਸਵੀਰਾਂ ਵਿੱਚ, ਕਾਲੇ ਖੇਤਰ ਸਮੂਹਿਕ ਕਣਾਂ ਅਤੇ ਅਣਹਾਈਡਰੇਟਿਡ ਸੀਮਿੰਟ ਕਣਾਂ ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਂਦੇ ਹਨ। ਦੋਵਾਂ ਦੀ ਪੋਰੋਸਿਟੀ ਮੂਲ ਰੂਪ ਵਿੱਚ 0% ਹੈ। ਚਮਕਦਾਰ ਹਰਾ ਚੱਕਰ ਪੋਰੋਸਿਟੀ ਹੈ (ਪੋਰੋਸਿਟੀ ਨਹੀਂ), ਅਤੇ ਪੋਰੋਸਿਟੀ ਮੂਲ ਰੂਪ ਵਿੱਚ 100% ਹੈ। ਇਹਨਾਂ ਵਿੱਚੋਂ ਇੱਕ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾ ਧੱਬੇਦਾਰ ਹਰਾ "ਪਦਾਰਥ" ਇੱਕ ਪੇਸਟ ਹੈ (ਚਿੱਤਰ 2)। ਜਿਵੇਂ-ਜਿਵੇਂ ਕੰਕਰੀਟ ਦਾ w/cm ਅਤੇ ਕੇਸ਼ੀਲ ਪੋਰੋਸਿਟੀ ਵਧਦੀ ਹੈ, ਪੇਸਟ ਦਾ ਵਿਲੱਖਣ ਹਰਾ ਰੰਗ ਹੋਰ ਵੀ ਚਮਕਦਾਰ ਹੁੰਦਾ ਜਾਂਦਾ ਹੈ (ਚਿੱਤਰ 3 ਵੇਖੋ)।
ਚਿੱਤਰ 2. ਇਕੱਠੇ ਕੀਤੇ ਕਣਾਂ, ਖਾਲੀ ਥਾਵਾਂ (v) ਅਤੇ ਪੇਸਟ ਦਿਖਾਉਂਦੇ ਹੋਏ ਫਲੈਕਸਾਂ ਦਾ ਫਲੋਰੋਸੈਂਸ ਮਾਈਕ੍ਰੋਗ੍ਰਾਫ। ਖਿਤਿਜੀ ਖੇਤਰ ਦੀ ਚੌੜਾਈ ~ 1.5 ਮਿਲੀਮੀਟਰ ਹੈ। ਚੁਨਯੂ ਕਿਆਓ ਅਤੇ ਡੀਆਰਪੀ, ਇੱਕ ਟਵਿਨਿੰਗ ਕੰਪਨੀ
ਚਿੱਤਰ 3. ਫਲੇਕਸ ਦੇ ਫਲੋਰੋਸੈਂਸ ਮਾਈਕ੍ਰੋਗ੍ਰਾਫ ਦਰਸਾਉਂਦੇ ਹਨ ਕਿ ਜਿਵੇਂ-ਜਿਵੇਂ w/cm ਵਧਦਾ ਹੈ, ਹਰਾ ਪੇਸਟ ਹੌਲੀ-ਹੌਲੀ ਚਮਕਦਾਰ ਹੁੰਦਾ ਜਾਂਦਾ ਹੈ। ਇਹ ਮਿਸ਼ਰਣ ਹਵਾਦਾਰ ਹੁੰਦੇ ਹਨ ਅਤੇ ਫਲਾਈ ਐਸ਼ ਹੁੰਦੇ ਹਨ। ਚੁਨਯੂ ਕਿਆਓ ਅਤੇ ਡੀਆਰਪੀ, ਇੱਕ ਟਵਿਨਿੰਗ ਕੰਪਨੀ
ਚਿੱਤਰ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਵਿੱਚ ਚਿੱਤਰਾਂ ਤੋਂ ਮਾਤਰਾਤਮਕ ਡੇਟਾ ਕੱਢਣਾ ਸ਼ਾਮਲ ਹੁੰਦਾ ਹੈ। ਇਹ ਰਿਮੋਟ ਸੈਂਸਿੰਗ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪ ਤੋਂ ਲੈ ਕੇ ਕਈ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਵਿਗਿਆਨਕ ਖੇਤਰਾਂ ਵਿੱਚ ਵਰਤਿਆ ਜਾਂਦਾ ਹੈ। ਇੱਕ ਡਿਜੀਟਲ ਚਿੱਤਰ ਵਿੱਚ ਹਰੇਕ ਪਿਕਸਲ ਅਸਲ ਵਿੱਚ ਇੱਕ ਡੇਟਾ ਬਿੰਦੂ ਬਣ ਜਾਂਦਾ ਹੈ। ਇਹ ਵਿਧੀ ਸਾਨੂੰ ਇਹਨਾਂ ਚਿੱਤਰਾਂ ਵਿੱਚ ਦਿਖਾਈ ਦੇਣ ਵਾਲੇ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਹਰੇ ਚਮਕ ਪੱਧਰਾਂ ਨਾਲ ਸੰਖਿਆਵਾਂ ਨੂੰ ਜੋੜਨ ਦੀ ਆਗਿਆ ਦਿੰਦੀ ਹੈ। ਪਿਛਲੇ 20 ਸਾਲਾਂ ਜਾਂ ਇਸ ਤੋਂ ਵੱਧ ਸਮੇਂ ਵਿੱਚ, ਡੈਸਕਟੌਪ ਕੰਪਿਊਟਿੰਗ ਸ਼ਕਤੀ ਅਤੇ ਡਿਜੀਟਲ ਚਿੱਤਰ ਪ੍ਰਾਪਤੀ ਵਿੱਚ ਕ੍ਰਾਂਤੀ ਦੇ ਨਾਲ, ਚਿੱਤਰ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਹੁਣ ਇੱਕ ਵਿਹਾਰਕ ਸਾਧਨ ਬਣ ਗਿਆ ਹੈ ਜਿਸਨੂੰ ਬਹੁਤ ਸਾਰੇ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪਿਸਟ (ਕੰਕਰੀਟ ਪੈਟਰੋਲੋਜਿਸਟਾਂ ਸਮੇਤ) ਵਰਤ ਸਕਦੇ ਹਨ। ਅਸੀਂ ਅਕਸਰ ਸਲਰੀ ਦੀ ਕੇਸ਼ੀਲ ਪੋਰੋਸਿਟੀ ਨੂੰ ਮਾਪਣ ਲਈ ਚਿੱਤਰ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹਾਂ। ਸਮੇਂ ਦੇ ਨਾਲ, ਅਸੀਂ ਪਾਇਆ ਕਿ w/cm ਅਤੇ ਕੇਸ਼ੀਲ ਪੋਰੋਸਿਟੀ ਵਿਚਕਾਰ ਇੱਕ ਮਜ਼ਬੂਤ ​​ਯੋਜਨਾਬੱਧ ਅੰਕੜਾ ਸਬੰਧ ਹੈ, ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਹੇਠਾਂ ਦਿੱਤੇ ਚਿੱਤਰ (ਚਿੱਤਰ 4 ਅਤੇ ਚਿੱਤਰ 5) ਵਿੱਚ ਦਿਖਾਇਆ ਗਿਆ ਹੈ।
ਚਿੱਤਰ 4. ਪਤਲੇ ਭਾਗਾਂ ਦੇ ਫਲੋਰੋਸੈਂਸ ਮਾਈਕ੍ਰੋਗ੍ਰਾਫਾਂ ਤੋਂ ਪ੍ਰਾਪਤ ਡੇਟਾ ਦੀ ਉਦਾਹਰਣ। ਇਹ ਗ੍ਰਾਫ ਇੱਕ ਸਿੰਗਲ ਫੋਟੋਮਾਈਕ੍ਰੋਗ੍ਰਾਫ ਵਿੱਚ ਦਿੱਤੇ ਗਏ ਸਲੇਟੀ ਪੱਧਰ 'ਤੇ ਪਿਕਸਲ ਦੀ ਸੰਖਿਆ ਨੂੰ ਪਲਾਟ ਕਰਦਾ ਹੈ। ਤਿੰਨ ਚੋਟੀਆਂ ਸਮੂਹਾਂ (ਸੰਤਰੀ ਕਰਵ), ਪੇਸਟ (ਸਲੇਟੀ ਖੇਤਰ), ਅਤੇ ਵੋਇਡ (ਸੱਜੇ ਪਾਸੇ ਖਾਲੀ ਚੋਟੀ) ਨਾਲ ਮੇਲ ਖਾਂਦੀਆਂ ਹਨ। ਪੇਸਟ ਦਾ ਕਰਵ ਔਸਤ ਪੋਰ ਆਕਾਰ ਅਤੇ ਇਸਦੇ ਮਿਆਰੀ ਭਟਕਣ ਦੀ ਗਣਨਾ ਕਰਨ ਦੀ ਆਗਿਆ ਦਿੰਦਾ ਹੈ। ਚੁਨਯੂ ਕਿਆਓ ਅਤੇ ਡੀਆਰਪੀ, ਟਵਿਨਿੰਗ ਕੰਪਨੀ ਚਿੱਤਰ 5. ਇਹ ਗ੍ਰਾਫ ਸ਼ੁੱਧ ਸੀਮਿੰਟ, ਫਲਾਈ ਐਸ਼ ਸੀਮਿੰਟ, ਅਤੇ ਕੁਦਰਤੀ ਪੋਜ਼ੋਲਨ ਬਾਈਂਡਰ ਦੇ ਬਣੇ ਮਿਸ਼ਰਣ ਵਿੱਚ w/cm ਔਸਤ ਕੇਸ਼ਿਕਾ ਮਾਪਾਂ ਅਤੇ 95% ਵਿਸ਼ਵਾਸ ਅੰਤਰਾਲਾਂ ਦੀ ਇੱਕ ਲੜੀ ਦਾ ਸਾਰ ਦਿੰਦਾ ਹੈ। ਚੁਨਯੂ ਕਿਆਓ ਅਤੇ ਡੀਆਰਪੀ, ਇੱਕ ਟਵਿਨਿੰਗ ਕੰਪਨੀ
ਅੰਤਿਮ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਵਿੱਚ, ਇਹ ਸਾਬਤ ਕਰਨ ਲਈ ਤਿੰਨ ਸੁਤੰਤਰ ਟੈਸਟਾਂ ਦੀ ਲੋੜ ਹੁੰਦੀ ਹੈ ਕਿ ਸਾਈਟ 'ਤੇ ਕੰਕਰੀਟ ਮਿਕਸ ਡਿਜ਼ਾਈਨ ਨਿਰਧਾਰਨ ਦੀ ਪਾਲਣਾ ਕਰਦਾ ਹੈ। ਜਿੱਥੋਂ ਤੱਕ ਸੰਭਵ ਹੋਵੇ, ਪਲੇਸਮੈਂਟਾਂ ਤੋਂ ਕੋਰ ਨਮੂਨੇ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕਰੋ ਜੋ ਸਾਰੇ ਸਵੀਕ੍ਰਿਤੀ ਮਾਪਦੰਡਾਂ ਨੂੰ ਪੂਰਾ ਕਰਦੇ ਹਨ, ਅਤੇ ਨਾਲ ਹੀ ਸੰਬੰਧਿਤ ਪਲੇਸਮੈਂਟਾਂ ਤੋਂ ਨਮੂਨੇ ਵੀ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕਰੋ। ਸਵੀਕਾਰ ਕੀਤੇ ਲੇਆਉਟ ਤੋਂ ਕੋਰ ਨੂੰ ਇੱਕ ਨਿਯੰਤਰਣ ਨਮੂਨੇ ਵਜੋਂ ਵਰਤਿਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ, ਅਤੇ ਤੁਸੀਂ ਇਸਨੂੰ ਸੰਬੰਧਿਤ ਲੇਆਉਟ ਦੀ ਪਾਲਣਾ ਦਾ ਮੁਲਾਂਕਣ ਕਰਨ ਲਈ ਇੱਕ ਬੈਂਚਮਾਰਕ ਵਜੋਂ ਵਰਤ ਸਕਦੇ ਹੋ।
ਸਾਡੇ ਤਜਰਬੇ ਵਿੱਚ, ਜਦੋਂ ਰਿਕਾਰਡ ਵਾਲੇ ਇੰਜੀਨੀਅਰ ਇਹਨਾਂ ਟੈਸਟਾਂ ਤੋਂ ਪ੍ਰਾਪਤ ਡੇਟਾ ਨੂੰ ਦੇਖਦੇ ਹਨ, ਤਾਂ ਉਹ ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਪਲੇਸਮੈਂਟ ਸਵੀਕਾਰ ਕਰਦੇ ਹਨ ਜੇਕਰ ਹੋਰ ਮੁੱਖ ਇੰਜੀਨੀਅਰਿੰਗ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ (ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਸੰਕੁਚਿਤ ਤਾਕਤ) ਪੂਰੀਆਂ ਹੁੰਦੀਆਂ ਹਨ। w/cm ਅਤੇ ਗਠਨ ਕਾਰਕ ਦੇ ਮਾਤਰਾਤਮਕ ਮਾਪ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕਰਕੇ, ਅਸੀਂ ਇਹ ਸਾਬਤ ਕਰਨ ਲਈ ਬਹੁਤ ਸਾਰੀਆਂ ਨੌਕਰੀਆਂ ਲਈ ਨਿਰਧਾਰਤ ਟੈਸਟਾਂ ਤੋਂ ਪਰੇ ਜਾ ਸਕਦੇ ਹਾਂ ਕਿ ਪ੍ਰਸ਼ਨ ਵਿੱਚ ਮਿਸ਼ਰਣ ਵਿੱਚ ਉਹ ਗੁਣ ਹਨ ਜੋ ਚੰਗੀ ਟਿਕਾਊਤਾ ਵਿੱਚ ਅਨੁਵਾਦ ਕਰਨਗੇ।
ਡੇਵਿਡ ਰੋਥਸਟਾਈਨ, ਪੀਐਚ.ਡੀ., ਪੀਜੀ, ਐਫਏਸੀਆਈ, ਡੀਆਰਪੀ, ਏ ਟਵਿਨਿੰਗ ਕੰਪਨੀ ਦੇ ਮੁੱਖ ਲਿਥੋਗ੍ਰਾਫਰ ਹਨ। ਉਨ੍ਹਾਂ ਕੋਲ 25 ਸਾਲਾਂ ਤੋਂ ਵੱਧ ਪੇਸ਼ੇਵਰ ਪੈਟਰੋਲੋਜਿਸਟ ਦਾ ਤਜਰਬਾ ਹੈ ਅਤੇ ਉਨ੍ਹਾਂ ਨੇ ਦੁਨੀਆ ਭਰ ਦੇ 2,000 ਤੋਂ ਵੱਧ ਪ੍ਰੋਜੈਕਟਾਂ ਤੋਂ 10,000 ਤੋਂ ਵੱਧ ਨਮੂਨਿਆਂ ਦਾ ਨਿੱਜੀ ਤੌਰ 'ਤੇ ਨਿਰੀਖਣ ਕੀਤਾ ਹੈ। ਡਾ. ਚੁਨਯੂ ਕਿਆਓ, ਡੀਆਰਪੀ, ਏ ਟਵਿਨਿੰਗ ਕੰਪਨੀ ਦੇ ਮੁੱਖ ਵਿਗਿਆਨੀ, ਇੱਕ ਭੂ-ਵਿਗਿਆਨੀ ਅਤੇ ਸਮੱਗਰੀ ਵਿਗਿਆਨੀ ਹਨ ਜਿਨ੍ਹਾਂ ਨੂੰ ਸੀਮੈਂਟਿੰਗ ਸਮੱਗਰੀ ਅਤੇ ਕੁਦਰਤੀ ਅਤੇ ਪ੍ਰੋਸੈਸਡ ਚੱਟਾਨ ਉਤਪਾਦਾਂ ਵਿੱਚ ਦਸ ਸਾਲਾਂ ਤੋਂ ਵੱਧ ਦਾ ਤਜਰਬਾ ਹੈ। ਉਨ੍ਹਾਂ ਦੀ ਮੁਹਾਰਤ ਵਿੱਚ ਕੰਕਰੀਟ ਦੀ ਟਿਕਾਊਤਾ ਦਾ ਅਧਿਐਨ ਕਰਨ ਲਈ ਚਿੱਤਰ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਅਤੇ ਫਲੋਰੋਸੈਂਸ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪੀ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਸ਼ਾਮਲ ਹੈ, ਜਿਸ ਵਿੱਚ ਡੀਆਈਸਿੰਗ ਲੂਣ, ਖਾਰੀ-ਸਿਲਿਕਨ ਪ੍ਰਤੀਕ੍ਰਿਆਵਾਂ ਅਤੇ ਗੰਦੇ ਪਾਣੀ ਦੇ ਇਲਾਜ ਪਲਾਂਟਾਂ ਵਿੱਚ ਰਸਾਇਣਕ ਹਮਲੇ ਕਾਰਨ ਹੋਏ ਨੁਕਸਾਨ 'ਤੇ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ ਜ਼ੋਰ ਦਿੱਤਾ ਗਿਆ ਹੈ।